 |
.png) |
 |
 |
|
| ПОИСК ПО ЭЛЕКТРОННОМУ КАТАЛОГУ |
 |
|
|
||||||||||||||
 |
|
|
||||||||||||||
|
|
|
||||||||||||||
|
|
|
||||||||||||||
|
|
|
||||||||||||||
|
|
|
||||||||||||||
Результаты поиска
|
1. | 621.396/Л36-820304 Левин, Самнер. |
УДК 621.396
Рубрики:
Микроэлектроника полупроводниковая
Кл.слова (ненормированные): НАДЕЖНОСТЬ -- МИНИАТЮРИЗАЦИЯ -- ИДЕАЛЬНЫЙ -- КРИСТАЛЛ -- ДИСЛОКАЦИЯ -- ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ -- ДЕФЕКТ -- ФЕРМИ -- ИОНИЗАЦИЯ -- КВАЗИУРОВЕНЬ -- НОСИТЕЛЬ -- ПОДВИЖНОСТЬ -- ТОНКАЯ -- ПЛЕНКА -- ПОЛУПРОВОДНИК -- ЗАРЯД -- РАССЕЯНИЕ -- ВЫРАЩИВАНИЕ -- ВЫПРЯМЛЕНИЕ -- СТРУКТУРА -- ПЕРЕХОД -- ПОТЕНЦИАЛ -- ЛАВИННЫЙ -- ПРОБОЙ -- КАНАЛЬНЫЙ -- ПОЛЕВОЙ -- ТРАНЗИСТОР -- ТУННЕЛЬНЫЙ -- ДИОД -- ГЕРМАНИЙ -- КРЕМНИЙ -- ЗОННАЯ -- ПЛАВКА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ -- УДЕЛЬНОЕ -- СОПРОТИВЛЕНИЕ -- ДИФФУЗИЯ -- КЕРАМИЧЕСКАЯ -- СТЕКЛЯННАЯ -- ПОДЛОЖКА -- КОНДЕНСАТОР -- КАТУШКА -- ИНДУКТИВНОСТЬ -- УСИЛИТЕЛЬ -- МИКРОМОДУЛЬ
Доп. точки доступа:
Визель, А. А.пер.
Маслов, А. А.ред.
Имеются экземпляры в отделах:
ОНЛ (31.12.1968г. Инв.193221 - 1.02 р.) - свободен
ОНЛ (31.12.1968г. Инв.193222 - 1.02 р.) - свободен
ОНЛ (31.12.1968г. Инв.203305 - 1.02 р.) - свободен
Ключевые слова
Экземпляры
 |